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用SIEVERS*INNOVOX ES实验室型TOC分析仪分析硫酸中的总有机碳(TOC)

在半导体行业中,硫酸用于晶圆蚀刻工艺。酸的纯度和洁净度对生产至关重要,这就要求硫酸供应商对产品批次进行污染控制,以满足工艺要求。很多行业在电镀工艺中使用硫酸铜。为了提高化学品的性能,生产商添加有机基体的匀染剂和增白剂。了解添加剂的用量及其潜在的分解物,有助于控制产品质量和工艺。

用SIEVERS*INNOVOX ES实验室型TOC分析仪分析过氧化氢中的TOC

过氧化氢(H2O2)是许多行业在生产工艺中广泛使用的重要化学品。许多应用(例如半导体制造)都需要使用高纯度、低污染的H2O2溶液。有效地检测H2O2溶液中的杂质浓度(特别是有机碳浓度),是确定过H2O2溶液在工艺中的适用性以及H2O2溶液对工艺和产品的影响的关键。

SIEVERS*INNOVOX总有机碳TOC分析仪在氯碱行业的应用

很多成品最终质量由原材料的初始质量决定,如聚合物、有机和无机溶剂、清洁剂、纸和杀虫剂。普遍的原材料是氯气与氢氧化钠等,由氯碱行业生产。氯碱工艺就是通过电解近饱和、饱和以及超饱和的盐水来制取氢氧化钠和氯气。在强电流下,盐水分解产生氢氧化钠、氯气和氢气。这就是氯碱工艺,工艺过程越高效,产品质量和利润就越高。

液相色谱法测定环氧氯丙烷工业中间体中的己二酸

本文建立了一种使用液相色谱仪测定环氧氯丙烷工业中间体中己二酸含量的方法。该方法简单快速,回收率高,重现性好,满足工业分析要求。

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液相色谱仪

液相色谱仪

型号:Nexera LC-40 系列

用SIEVERS*INNOVOX TOC分析仪测定氢氧化钠(NAOH)中的总无机碳(TIC)

SieversInnovOx实验室TOC分析仪采用创新技术对氢氧化钠等强碱中的无机碳进行量化分析。分析仪先酸化样品中的无机碳酸盐和碳酸氢盐,将其转化为二氧化碳,然后用非分散红外(NDIR,NondispersiveInfrared)检测器来测量和定量分析二氧化碳。

气相色谱法测定工业用甲基叔丁基醚纯度及杂质

工业用甲基叔丁基醚而言,其合成工艺复杂,杂质种类较多,其纯度及杂质含量测定要求严格,考验分析仪器灵敏及稳定性。福立仪器采用GC9720Plus气相色谱仪,参考《SH/T1550-2012业用甲基叔丁基醚(MTBE)纯度及杂质的测定气相色谱法》中两种方案,分别对两组甲基叔丁基醚相关样本(样本来源于该标准起草单位)进行测定,以校正面积归一化法测定纯度。

氯代碳酸乙烯酯-酸值的测定

本文参照某企业标准,旨在探讨T960电位滴定仪在氯代碳酸乙烯酯酸值测定上的可行性。

卡尔费休库伦法测定氯代碳酸乙烯酯中水分的含量

本实验使用T931库伦水分仪测定其水分,能够快速、准确地检测出微量水分含量,大大提高检测效率和精度。

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库仑水分测定仪

库仑水分测定仪

型号:T931

高效液相色谱法测定工业用精对苯二甲酸中杂质含量

工业用精对苯二甲酸是基础的有机化工原料,该产品中杂质含量将影响其质量等级。本方案参考GBT30921.1-2014工业用精对苯二甲酸(PTA)试验方法,采用福立LC5090对精对苯二甲酸中对醛基苯甲酸和对甲基苯甲酸这两种杂质含量进行测定。

应用方案┃原子吸收火焰法┃测定工业硝酸钾和硝酸镁中金属杂质含量

样品中各元素含量范围:以最大限值计算,方便后续取样和曲线浓度范围预估。1、工业硝酸钾:铁、钠、锂、钙、铬、铅、镉≤0.001%=10ug/g;镁≤0.003%=30ug/g;2、六水硝酸镁:钙≤0.1%=1000ug/g;铁≤0.0005%=5ug/g;钠≤0.002%=20ug/g;铬、铅、镉≤0.001%=10ug/g;

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八灯座单火焰原子吸收光谱仪

八灯座单火焰原子吸收光谱仪

型号:AA-1800D
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