ICP-OES法测定铜电解液中铅、锌、镍、铋、锑、砷
采用电感耦合等离子发射光谱法测定，一次处理试样，同时测定多种元素，操作简单，准确度高，可节省大量的时间，满足生产需要。经过方法的准确度、精密度和加标回收实验，确定了最佳分析条件，结果满意。
偏硼酸锂熔融－电感耦合等离子体发射光谱法测定有色金属矿中二氧化硅
有色金属矿在矿产资源中占据核心位置，广泛应用于航天、汽车、军事、化工、医药、电子等领域。有色金属矿石的成分较为复杂，通常包括铜、铅、锌、镍、钼、镉、钨、钴、砷、锡、锑等元素，多以硫化物或者氧化物形式存在，且金属元素含量高、种类多，具有较高的研究价值。
岛津电子探针EPMA 快速判定钴产品成分
钴的生产工艺流程复杂，存在大量的产品业态及应用场景，对各类钴产品进行准确、快速的成分判定具有重要的意义。本文利用岛津电子探针，对某钴粉颗粒进行了定量，并利用岛津XRD物相鉴定对定量结果进行了验证，结果表明岛津EPMA可实现对包括超轻元素在内的各元素进行准确定量。
产品
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- 型号：EPMA-8050G
火焰原子吸收光谱法测定高炉尘中铟
原子吸收分光光度计（上海美析仪器有限公司）；铟空心阴极灯；铟标准储备液（北京有色金属研究总院）：1000μｇ/mL（1mol/L硝酸介质）；铟标准工作溶液（1mol/L硝酸介质）：100μｇ/mL，取25mL铟标准储备液于250mL容量瓶中，加28mL硝酸（1＋1），加水定容；氢氧化钠溶液：10mol/L。
EDX-7200 分析铜合金中的 ROHS 限制物质
IEC62321方法标准中规定电子电气产品中的RoHS限制物质Cd、Pb、Hg、TCr、TBr，可以使用EDX进行筛选分析。本文使用岛津EDX-7200仪器，分析铜合金中的Cd、Pb、Cr含量，分析精密度RSD值优于4.5%,分析准确度的相对误差优于10%,可应用于铜合金样品的ROHS限制物质Cd、Pb、Cr的筛选分析。
产品
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- 型号：EDX-7200
电感耦合等离子体原子发射光谱法（ICP-OES）测定硅锆合金中的锆
试验所用试剂：硝酸（HNO3），ρ1.42g/mL，优级纯；盐酸（HCl），ρ1.48g/mL，优级纯；盐酸（1+1），500mL盐酸与500mL水稀释；氢氟酸（HF），ρ1.13g/mL，优级纯；高氯酸（HClO4），ρ1.68g/mL，分析纯；水为去离子水，符合GB/T6682规定的二级水。锆标准储备溶液1000μg/mL（国家有色金属及电子材料分析测试中心）。
脉冲加热-惰气熔融红外吸收热导法测定铜中氧氮氢
钢研纳克采用ONH5500氧氮氢分析仪，参考GB/T5121.8-2024《铜及铜合金化学分析方法第8部分：氧、氮、氢含量的测定》建立了铜及铜合金中氧氮氢元素检测方案，测定铜及铜合金中氧氮氢元素成分含量。
产品
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- 型号：ONH5500
高频红外吸收法测定铜中硫含量
本文采用高频红外吸收法对铜中硫进行了测定。对称样量、助熔剂重量、工作曲线等进行了实验。用标准样品进行条件实验，标准样品释放曲线平滑，结果稳定，确定最佳实验条件为样品0.5g+1.0g钨助剂，再对未知含量铜基体样品进行测定，测定结果满足客户需求。
产品
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- 型号：CS3500
微波消解－ICP-AES测定硫铁合金中锰含量
硫铁中锰元素的测定方法可参照的方法有原子吸收法［1］、高碘酸钾分光光度法［2］、电感耦合等离子体发射光谱法［3］，X射线荧光光谱法［4］等。标准YB/T4551－2016硫铁试料用盐酸溶解完荃，冷却，定容，摇匀，采ICP-AES检测锰含量［5］。而在应用中因硫铁试样中含硫、硅、钛、铜、铝、碳等元素，采用盐酸溶解，经常出现样品难以完荃溶解的现象，导致进样管和雾化器堵塞，影响仪器的正常运行。
产品
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- 型号：ICP-6810
PlasmaMS 300型电感耦合等离子体质谱仪测定高纯铜中14种杂质元素
钢研纳克采用PlasmaMS300型电感耦合等离子体质谱仪，建立了纯铜杂质元素检测方案。该方案选用基体匹配和内标校正法克服纯铜基体效应，通过碰撞池来消除多原子离子干扰，建立起对纯铜中Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Zn、As、Se、Ag、Cd、Sn、Sb、Pb、Bi等14种元素的检测分析方法。
产品
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- 型号：PlasmaMS 300
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