微波消解法---氮化硅中铁元素含量
一般测定微量金属元素含量的方法有原子吸收法、电感耦合等离子体发射光谱法、电感耦合等离子体质谱法等。电感耦合等离子体发射光谱法因具有检测限低、精密度好、准确度高且可同时测定多个元素等优点，而得到分析工作者的青睐。
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- 型号：LUMiFuge
马尔文帕纳科 超分子领域解决方案
本研究利用PS-PEG为自组装单元，制备得到约300nm的超分子纳米颗粒，随后通过透析，将铂纳米颗粒(PtNP)装载至超分子纳米颗粒内部，进而形成有裂口的纳米马达。
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- 型号：Nanosight NS300
喷雾干燥技术在纳米材料氧化铌薄膜制备中的工艺研究
氧化铌薄膜由于物理和化学性质被广泛地用于光学干涉滤波器、电化色薄膜和气体传感器中。它光学波导损耗小，对紫外有较强的吸收，可作紫外敏感材料的保护膜，是一种具有优异光学性能的材料。
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- 型号：L-317
恒温电热板消解处理测定电子级多晶硅基体金属杂质含量
本文参照标准《GB／T37049-2018电子级多晶硅中基体金属杂质含量的测定电感耦合等离子体质谱法》使用实验电热板HT-300消解、ICP-MS测定电子级多晶硅中铁、铬、镍、铜、锌、钠的含量。
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- 型号：HT-300
使用不同的分散方法分散纳米碳酸钙样品
对用户来说，正确地使用激光粒度仪不仅可以稳定产品质量，提高产品性能，降低能源和产线消耗，提高生产效率，还可以根据测试数据有效地对产品进行分选，以此形成不同规格产品，提高产品附加值。如何正确地使用激光粒度仪对样品进行粒度分析是其中至关重要的一环。由于激光粒度仪测量的是在分散介质中的颗粒分散粒径，在粒度测试过程中，怎样优化分散方法是使粒度仪的应用数据能有效地反应颗粒样品相关性能的核心要素之一。
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- 型号：TopSizer
徕卡电镜制样全套解决方案 满足电镜制样多样需求-材料领域
LeicaEMARTOS3D连续超薄切片机，它可以一次自动切出上百个切面尺寸灵活(微米到毫米)的超薄切片;直接内置的切片-条带收集系统,可直接转移至SEM内;通过序列断层成像,对生物样品超微结构进行纳米级别的三维重建。同时,可选择透明的硅片收集切片,因此ARTOS3D也是光电联用显微技术(CLEM)的理想解决方案。
SCION(赛里安)456i对锂电池电解液的测定
本应用介绍了SCION(赛里安)456i气相色谱仪搭配FID检测器对锂电池电解液中12种有机化合物的检测方法。方法满足于锂电池电解液组分分析要求，具有灵敏度高，重复性好，线性好，检测结果准确可靠操作方便等优点。
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- 型号：赛里安456i
氧化石墨烯的片层尺寸对抗菌活性的影响
本文通过制备四种不同尺寸的GO悬浮液，结合生物实验，证明了GO尺寸与其对革兰氏阳性致龋菌变形链球菌的抗菌活性的影响呈抛物线关系，其中通过使用岛津扫描探针显微SPM-9600对G0的尺寸进行准确表征以确保该实验结果的准确性和可重复性。
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空气颗粒物(PM)滤膜检测--- X射线驻波(XSW)及全反射X射线荧光(TXRF)法
此项工作是对此前介绍的空气颗粒物(PM)滤膜检测方法的改进[1]。用一种新型专用实验室仪器实现空气颗粒物(PM)滤膜的X射线驻波(XSW)及全反射X射线荧光(TXRF)检测。同时进行XSW和TXRF检测的主要优点是可以区分样品的性质：小液滴干燥残留物、薄膜样品或大块样品；另一方面，它选择合适的全反射角进行TXRF测量。
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- 型号：EXPLORER
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