RoHS2.0检测全套解决方案
近几年来，随着人们环保意识的不断提高，电子电气产品引发的环境污染问题越来越受重视。关于在电子电气产品上限制使用某些有害物质，已经成为各国在环保领域采取的新举措，纷纷推出强制性的技术法规。
产品
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- 型号：LC5090PLUS
触摸屏导电银浆和电磁屏蔽银浆的分散解决方案
随着5G手机等个人通信设备的发展及高频高速通信的需求，高频率零部件的电磁干扰问题越来越严重。在手机等个人通信设备中，主要通过喷涂、转印、移印的方式在中框上形成电磁屏蔽导电涂层。所以，开发分散性好、性能稳定以及导电性能佳的电磁屏蔽银浆是很有必要的……
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凯氏定氮法测定针状焦中的氮含量方法改进
针状焦分为熟焦和生焦。熟焦是生焦经高温煅烧后的产物，生焦易于消解，参照《GB/T19227-2008煤中氮的测定方法》测定就能*消解，而熟焦参照该标准并且延长消解时间，也不能*消解，为此本文寻找新的消解方法，能很好的将熟焦消解*，满足客户需求。
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- 型号：K1160+K1124
在 DSC 8000 中通过 UV 照射固化光胶
我们使用具有UV照射功能的珀金埃尔默DSC8000系统。可以使用带石英盖的专用DSC样品盘，也可以使用敞口盘。加热或冷却样品至等温温度，使其达到热均衡。通过Pyris™软件，触发光源的快门，打开和关闭照射样品的光源。在不同的强度和时间收集数据，为材料找到最佳的固化周期。
产品
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- 型号：DSC 8000/8500系列
产品
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- 型号：NexION 2000
单颗粒 ICP-MS 测定铁纳米颗粒：利用通用池技术消除质谱干扰
随着纳米颗粒兴趣的增加，各种测试方法正被应用。采用单颗粒模式电感耦合等离子体质谱法（SP-ICP-MS）分析ICP-MassSpectrometry金属纳米颗粒成为有前途的技术之一。
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单颗粒ICP-MS测定化学-机械整平中使用的元素氧化物纳米颗粒悬浮物的特性
本研究概述了定量和表征纳米元素氧化物纳米颗粒（氧化铝和氧化铈），这些常用于纳米电子学和半导体制造行业中化学-机械（CMP）半导体表面的平整。CMP是一个结合了化学和机械外力平滑平面的过程，此步骤为光刻作准备。
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紫外-可见-近红外分光光度计测量粉末状 TiO2 带隙
测量材料的带隙对半导体、纳米材料以及太阳能等行业均非常重要。此篇文章描述了如何从某一材料的紫外吸收光谱确定它的带隙。
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- 型号：LAMBDA 1050+
使用 LAMBDA 1050+紫外-可见-近红外分光光度计测量增强型镜面反射（ESR）膜
目前，增强型镜面反射膜已应用于几乎所有液晶显示器的背光源，具体包括电视机、台式电脑、笔记本电脑、平板电脑、手机和移动设备的显示器。增强型镜面反射膜也可用于管理和优化其他行业对光的应用，包括建筑照明、汽车照明、太阳能照明（如管道式日光照明装置）等。
产品
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- 型号：LAMBDA 1050+
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