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半导体 清空筛选

一种利用显微角分辨光谱系统对透镜类样品进行聚焦能力表征的方法

本文针对15mm焦距单透镜样品,利用ARMS显微角分辨光谱系统的角分辨特性,控制入射光的角度,表征透镜的聚焦能力。通过ARMS系统实现0度定角度入射,并利用CCD相机和电控扫描台,获取超透镜在不同深度的两维光场强度,并重构为三维场强分布。图2展示了单透镜样品光场强度的截面图。据此,可以分析透镜类样品的聚焦能力。

低温强磁场原子力/磁力/扫描霍尔显微镜应用方案

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范德华异质结器件在低温40mK中旋转

德国attocube公司的atto3DR低温双轴旋转台可以使样品与单轴线管的超导磁场方向的夹角调整为任意角度。通过电学输运结果,证实了样品中存在的超导与Mott缘体与金属态的转变,证明了三层石墨烯/氮化硼的超晶格为超导理论模型(Habbardmodel)以及与之相关的反常超导性质与新奇电子态的研究提供了模型系统。

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